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高分辨电子显微镜
| 仪器设备中文名称： | 高分辨电子显微镜 | 仪器设备英文名称： | TEM |
|---|---|---|---|
| 仪器所属类别： | 电子光学仪器>透射电镜 | 仪器所在地区： | 包头市>青山区 |
| 是否通过认证： | 是 | 仪器图片： |  |
| 仪器型号规格： | JEM-200CXV | ||
| 仪器数量： | 1 | ||
| 仪器状况： | 正常 | ||
| 生产厂商： | |||
| 产地国别： | 日本 | ||
| 单价（万元）： | 452.92999267578125 | 所在单位： | 中国兵器工业五二研究所 |
| 启用日期： | 1983年2月 | 所在试验室名称： | 中国兵器工业金属材料理化检测中心 |
| 收费标准： | 可协商 | 通讯地址： | 包头市第四号信箱 |
| 填表更新日期： | 2008-09-19 00:00:00 | 所在地邮编： | 014034 |
| 仪器联系人： | 刘子瑜 | 联系人电话： | 0472-3166566 6552 6533（传真 |
| 联系人电子邮件： | lhjczxbt@sina.com | ||
| 知名用户： | |||
| 应用成果： | |||
| 主要附件： | |||
| 主要技术指标： | 分辨率 晶格：0.14nm 点粒：0.35nm 可放大45万倍。 | ||
| 仪器功能及应用范围： | （1）各种材料（金属、非金属、生物样品）的微观组织结构观察。（2）材料晶体，结构电子衍射分析。（3）粉末颗粒的尺寸、形貌及结构分析。（4)各种材料的微观组织结构观察；材料晶体机构电子衍射分析；粉末颗粒的尺寸形貌及结构分析。 | ||
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